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电子元器件失效分析

电子元器件失效分析

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分析对象：集成电路、场效应管、二极管、发光二极管、三极管、晶闸管、电阻、电容、电感、继电器、连接器、光耦、晶振等各种有源/无源器件

      

失效模式： 开路、短路、烧毁、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等


分析手段：电测、无损分析、显微形貌像分析、失效定位、表面元素分析